Комплекс для наноисследований с использованием методов зондово-усиленного комбинационного рассеяния (TERS), сканирующей ближнеполевой оптической микроскопии (SNOM), спектроскопии Бриллюэновского рассеяния (BLS) и сканирующей зондовой микроскопии (SPM)
https://doi.org/10.25205/2541-9447-2018-13-4-106-110
Аннотация
Мы сосредоточимся на нашем недавно разработанном Комплексе для наноисследований с использованием методов зондово-усиленного комбинационного рассеяния (TERS), сканирующей ближнеполевой оптической микроскопии (SNOM), спектроскопии Бриллюэновского рассеяния (BLS) и сканирующей зондовой микроскопии (SPM), разработанном в лаборатории нелинейной магнитодинамики (зав. проф., д-р С. О. Демокритов) в Институте прикладной физики университета г. Мюнстера. Комплекс, построенный на основе многофункционального СЗМ ИНТЕГРА Спектра С компании НТМДТ (SPM NTEGRA Spectra C) и 6-проходного Фабри-Перо-тандем-интерферометра (JRS Scientific Instruments), предназначен для нанотехнологических исследований, в основном на наноструктурах для спинтроники.
Об авторах
И. Г. Ерш
Институт прикладной физики, Университет г. Мюнстера
Россия
Россия
С. О. Демокритов
Институт прикладной физики, Университет г. Мюнстера
Россия
Россия
Список литературы
1. Deyang Ji, Johann Jersch, and Harald Fuchs. Holey Contacts: A New Approach to Enhance Charge Injection through Low-Cost Nanopore-Structured Silver Electrodes in Bottom-Gate Bottom-Contact (BGBC) Organic Field-Effect Transistors. Adv. Electron. Mater., 2016, 1600215, р. 1-7. https://doi.org/10.1002/aelm.201600215
2. Jersch J., Demidov V. E., Fuchs H., Rott K., Krzysteczko P., Münchenberger J., Reiss G., Demokritov S. O. Mapping of localized spin-wave excitations by near-field Brillouin light scattering. Appl. Phys. Lett., 2010, vol. 97, p. 152502
Рецензия
Для цитирования:
Ерш И.Г., Демокритов С.О. Комплекс для наноисследований с использованием методов зондово-усиленного комбинационного рассеяния (TERS), сканирующей ближнеполевой оптической микроскопии (SNOM), спектроскопии Бриллюэновского рассеяния (BLS) и сканирующей зондовой микроскопии (SPM). Сибирский физический журнал. 2018;13(4):106-110. https://doi.org/10.25205/2541-9447-2018-13-4-106-110
For citation:
Jersch J., Demokritov S. Complex for Nanoscale Researches by Using TERS, SNOM, BLS, and SPM Techniques. SIBERIAN JOURNAL OF PHYSICS. 2018;13(4):106-110. (In Russ.) https://doi.org/10.25205/2541-9447-2018-13-4-106-110
Просмотров:
149
Послать статью по эл. почте 