Неразрушающий однопролетный профилометр пучка электронов на основе ПЗС-камеры
https://doi.org/10.25205/2541-9447-2023-18-4-62-70
Аннотация
ПЗС-камеры просты в использовании и довольно широко распространены в оптической диагностике пучков в ускорителях элементарных частиц. Время экспозиции этих камер составляет миллисекунды, поэтому они обычно используются в накопительном режиме для наблюдения за циркулирующими пучками. Изображение с камер содержат информацию о поперечном распределении частиц в пучке и положении центра масс пучка. В данной работе на примере ПЗС-камер, установленных на электрон-позитронном коллайдере ВЭПП-2000, исследована возможность их использования в режиме однократного пролета пучка через место наблюдения. Проведена оценка интенсивности светового потока оптической части спектра синхротронного излучения пучка, экспериментально получено изображение и измерены поперечные размеры пучка в однопролетном режиме.
Об авторах
М. В. ТимошенкоРоссия
Максим Вадимович Тимошенко, младший научный сотрудник
Е. А. Переведенцев
Россия
Евгений Алексеевич Переведенцев, ведущий научный сотрудник
C. П. Шерстюк
Россия
Сергей Павлович Шерстюк, старший лаборант
Список литературы
1. Shwartz D. et al. Round Colliding Beams at VEPP-2000 with Extreme Tuneshift // Proc. eeFACT2018. Hong Kong, China. P. 34–40.
2. Berkaev D. et al. Beam Measurement System of VEPP-2000 Injection Channels // Proc. of the ICALEPCS2009, Kobe, Japan, paper TUP032. P. 155–157.
3. Wiedemann H. Particle Accelerator Physics. Springer Cham, 2015.
4. Шерстюк С. П. Исследование размеров пучка при инжекции в накопитель: Выпускная квалификационная работа на соискание степени бакалавра / НГУ, науч. рук. Е. А. Переведенцев. Новосибирск, 2022.
5. Hofmann A. The Physics of Synchrotron Radiation. N. Y.: Cambridge University Press, 2004. References
Рецензия
Для цитирования:
Тимошенко М.В., Переведенцев Е.А., Шерстюк C.П. Неразрушающий однопролетный профилометр пучка электронов на основе ПЗС-камеры. Сибирский физический журнал. 2023;18(4):62-70. https://doi.org/10.25205/2541-9447-2023-18-4-62-70
For citation:
Timoshenko M.V., Perevedentsev E.A., Sherstyuk S.P. Non-Destructive Single-Revolution Electron Beam Profilometer based on a CCD Camera. SIBERIAN JOURNAL OF PHYSICS. 2023;18(4):62-70. (In Russ.) https://doi.org/10.25205/2541-9447-2023-18-4-62-70