<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">nguphys</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Сибирский физический журнал</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>SIBERIAN JOURNAL OF PHYSICS</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">2541-9447</issn><publisher><publisher-name>Новосибирский государственный университет</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.25205/2541-9447-2018-13-2-80-85</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">nguphys-35</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА, ПОЛУПРОВОДНИКОВ, НАНОСТРУКТУР</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>SOLID-STATE AND SEMICONDUCTOR PHYSICS, PHYSICS OF NANOSTRUCTURES</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>ВЛИЯНИЕ ПРИМЕСНЫХ ЦЕНТРОВ И ПРОЦЕССОВ РЕКОМБИНАЦИИ НА ФОТОЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬ ФОТОЭЛЕМЕНТОВ</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>INFLUENCE OF IMPURITY CENTERS AND RECOMBINATION PROCESSES ON PHOTOELECTRICITY OF PHOTOELEMENTS</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Аликулов</surname><given-names>М. Н.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Alikulov</surname><given-names>M. N.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Каршинский инженерно-экономический институт</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Karshi Engineering-Economics Institute</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2018</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>26</day><month>10</month><year>2020</year></pub-date><volume>13</volume><issue>2</issue><fpage>80</fpage><lpage>85</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Аликулов М.Н., 2020</copyright-statement><copyright-year>2020</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Аликулов М.Н.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Alikulov M.N.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://nguphys.elpub.ru/jour/article/view/35">https://nguphys.elpub.ru/jour/article/view/35</self-uri><abstract><p>Рассматриваются фотоэлектрические явления в солнечных батареях, а также влияние примесных атомов и рекомбинационных процессов на фоточувствительность фотоэлементов. Разъяснена связь скорости рекомбинации в полупроводниках с концентрацией носителей неравновесного заряда, образующейся под воздействием света. Также показана зависимость времени жизни носителей заряда с расположением центров рекомбинации.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The article deals with photoelectric phenomena in solar batteries, as well as the influence of impurity atoms and recombination processes on the photosensitivity of photocells. Explained the relationship between the rate of recombination in semiconductors and the concentration of carriers of a non-equilibrium charge formed under the influence of light. The dependence of the lifetime of charge carriers on the location of recombination centers is also shown.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>кремний</kwd><kwd>фотоэлемент</kwd><kwd>примесь</kwd><kwd>генерация</kwd><kwd>рекомбинация</kwd><kwd>полупроводник</kwd><kwd>фоточувствительность</kwd><kwd>солнечная батарея</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>silicon</kwd><kwd>photocell</kwd><kwd>impurity</kwd><kwd>generation</kwd><kwd>recombination</kwd><kwd>semiconductor</kwd><kwd>photosensitivity</kwd><kwd>solar battery</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Современные проблемы полупроводниковой фотоэнергетики: Пер. с англ. / Под ред. Т. Коутса, Дж. Микина. М.: Мир, 1988.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Современные проблемы полупроводниковой фотоэнергетики: Пер. с англ. / Под ред. Т. Коутса, Дж. Микина. М.: Мир, 1988.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ольховский Г. Г. Глобальные проблемы энергетики // Электрические станции. 2005. № 1. С. 4-10.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ольховский Г. Г. Глобальные проблемы энергетики // Электрические станции. 2005. № 1. С. 4-10.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гуламова М. А., Потаенко К. Д., Турсунов М. Н. и др. Солнечные элементы из отходов монокремния серийного производства // Гелиотехника. 1990. № 4.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гуламова М. А., Потаенко К. Д., Турсунов М. Н. и др. Солнечные элементы из отходов монокремния серийного производства // Гелиотехника. 1990. № 4.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Афанасьев В. П., Теруков Е. И., Шерченков А. А. Тонкопленочные солнечные элементы на основе кремния. 2-е изд. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ«ЛЭТИ», 2011.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Афанасьев В. П., Теруков Е. И., Шерченков А. А. Тонкопленочные солнечные элементы на основе кремния. 2-е изд. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ«ЛЭТИ», 2011.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кашкаров А. П. Ветрогенераторы, солнечные батареи и другие полезные конструкции. М.: ДМКПресс, 2011.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кашкаров А. П. Ветрогенераторы, солнечные батареи и другие полезные конструкции. М.: ДМКПресс, 2011.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Каримов Б. Х. Учебник по дисциплине «Электроника и микроэлектроника». Фергана, 2011.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Каримов Б. Х. Учебник по дисциплине «Электроника и микроэлектроника». Фергана, 2011.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Юнусов М. С. Физические явления в кремнии, легированном элементами платиновой группы. Ташкент: Фан, 1983, 80 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Юнусов М. С. Физические явления в кремнии, легированном элементами платиновой группы. Ташкент: Фан, 1983, 80 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Юнусов М. С. Природа глубоких примесных центров, создаваемых атомами группы платины в кремнии // Глубокие уровни в полупроводниках / Под ред. В. И. Фистуля. Ташкент: ТашГУ, 1981. С. 45-51.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Юнусов М. С. Природа глубоких примесных центров, создаваемых атомами группы платины в кремнии // Глубокие уровни в полупроводниках / Под ред. В. И. Фистуля. Ташкент: ТашГУ, 1981. С. 45-51.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Азимов С. А., Юнусов М. С., Турсунов Н. А., Султонов Н. А. Некоторые свойства кремния с примесью палладия // ФТП. 1972. Т. 6, вып. 8. С. 1438.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Азимов С. А., Юнусов М. С., Турсунов Н. А., Султонов Н. А. Некоторые свойства кремния с примесью палладия // ФТП. 1972. Т. 6, вып. 8. С. 1438.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Азимов С. А., Умаров Б. В., Юнусов М. С. Исследование диффузии и растворимости иридия в кремнии // ФТП. 1976. Т. 10, вып. 7. С. 1418.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Азимов С. А., Умаров Б. В., Юнусов М. С. Исследование диффузии и растворимости иридия в кремнии // ФТП. 1976. Т. 10, вып. 7. С. 1418.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Юнусов М. С., Турсунов Н. А. Электро-физические свойства кремния с примесью рутения // ФТП. 1974. Т. 8, вып. 6. С. 1145.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Юнусов М. С., Турсунов Н. А. Электро-физические свойства кремния с примесью рутения // ФТП. 1974. Т. 8, вып. 6. С. 1145.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Юнусов М. С., Каримов М., Кочкаров Р. Х. Влияние радиации на параметры фоточувствительных структур на основе Si &lt;S&gt;, Si &lt;Rh&gt; // Актуальные проблемы полупроводниковых структурных элементов: Тез. докл. республиканской науч. конф. Фергана, 1992. С. 34.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Юнусов М. С., Каримов М., Кочкаров Р. Х. Влияние радиации на параметры фоточувствительных структур на основе Si &lt;S&gt;, Si &lt;Rh&gt; // Актуальные проблемы полупроводниковых структурных элементов: Тез. докл. республиканской науч. конф. Фергана, 1992. С. 34.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
